全反射軟X線蛍光分光による多層膜表面・界面の拡散層の研究

今園 孝志; 柳原 美広*

Photon Factory News, 22(3), p.18 - 22, 2004/11

全反射臨界角を利用して励起した軟X線蛍光分光を用いて、Fe/Si多層膜の表面から数nmの深さの範囲内にSiOが分布することを明らかにした。これは、最上Fe層に最も近い拡散層であるFeSi層の酸化によって生成したもので、結果的にFeSi層厚は減少する。このことは臨界角から十分離れた入射角で励起した通常の軟X線蛍光分光では得られない全く新しい知見であり、全反射軟X線蛍光分光が表面及び界面にある物質の化学結合状態の分析法として極めて有用であることを示している。

An Improved solid angle method for nuclear criticality calculation of mult-unit system

奥野 浩

KURRI-TR-294, p.77 - 81, 1987/00

この報告では複数ユニット体系に対する中性子の収支方程式から出発して、臨界安全管理に使用できる立体角の制限式を導いた。従来の立体角法で使用されていた制限曲線もこの制限式の特殊な場合として導かれることが明らかとなった。さらに、この中性子の収支方程式が、体系全体の実効増倍率を固有値とする固有値方程式として表されることから、この固有値方程式を数値的に解く計算コードMUTUALを作成した。この計算コードは従来の立体角法では取扱いが難しかった「影」の効果や反射体の効果が取扱えるようになっている。モンテカルロ法による中性子輸送計算コードKENO-?Vとの計算結果の比較では数%の範囲内でよく一致しており、計算時間はその千分の一以内で済むことも明らかとなった。また、従来の立体角法によりも経済的合理性の高い評価が与えられるようになった。

MUTUAL:A Computer Code for Analysing Nuclear Criticality Safety on Array System

内藤 俶孝; 金子 俊幸*; 奥野 浩

JAERI-M 86-140, 39 Pages, 1986/09

JAERI-M-86-140.pdf:0.78MB

配列体系の臨界安全性を評価するのに、簡単な方法として立体角法がしばしば用いられる。しかし、この方法には、2つの欠点がある。それは、体系の実効増倍率が求められない事、およびある状況の下では安全裕度が大き過ぎると言う事である。このため、配列体系の実行増倍率を簡便に得る新しい方法を開発した。この方法では中性子の輸送は体系中に置かれたユニット間の立体角によって表現され、更に、他のユニットによる「影」の効果および壁による中性子の反射効果が考慮された上で、固有値方程式を解く事によリ実効増倍率が得られる。計算コードMUTUALはこの方法に従ってプログラムラムされた。この報告書はMUTUALコードの使用手引書でもある。